磁盤裝置及下觸判定方法

磁盤裝置及下觸判定方法

磁盤裝置及下觸判定方法是由山崎信義 發明開發。

本發明涉及磁盤裝置及下觸判定方法。實施方式的磁盤裝置具備磁盤、滑動器、加熱器、控制部、傳感器和判定部。所述滑動器具備相對于所述磁盤進行記錄或再現的磁頭元件。所述加熱器設置于所述滑動器,通過供給電力對所述滑動器進行加熱,并通過伴隨于該加熱的所述滑動器的熱變形,使所述磁頭元件相對于所述磁盤的突出量變化。所述控制部進行使涉及供給于所述加熱器的電力的控制量按一定周期地變動的DFH控制。所述傳感器設置于所述滑動器,輸出對應于相應于所述DFH控制的所述磁頭元件的突出量的信號。所述判定部基于相應于所述DFH控制的所述傳感器的直流輸出分量即DC輸出信號的峰值,對是否發生所述磁盤和所述滑動器的一部分相接觸的下觸進行判定。

[0002] 本發明的實施方式涉及磁盤裝置及下觸判定方法。

背景技術

[0003] 在具有磁盤的硬盤驅動器(HDD)中,磁頭一邊與磁盤空出間隙即一邊相對于磁盤懸浮,一邊相對于磁盤進行記錄再現??墒?,起因于HDD的使用環境的溫度、濕度或高度、或者磁盤上的部分的突起等,而未能良好地進行懸浮控制,存在發生磁頭接觸磁盤的稱為下觸(touch down)的現象(以下,稱為TD)的情況。

[0004] 在發生了該TD的情況下,由于與TD相伴的磁頭的高懸浮、磁頭的定位精度的下降等,會發生記錄錯誤和再現錯誤。因此,要求高精度地進行磁頭相對于磁盤的懸浮設計,使得在用戶的HDD使用環境中不會發生TD。

[0005] 現有,關于采用HDI(Head-Disk Interface,磁頭-磁盤界面)傳感器的AC輸出的TD 檢測方法已經作了公開。HDI 傳感器是在磁頭具備有電阻元件的傳感器,通過 HDI 傳感器的電阻值的變化能夠對 TD 進行檢測。另一方面作為未使用 HDI 傳感器的 TD 檢測方法,存在利用伺服位置誤差信息的方法。不管是哪種方法都要求高精度地進行TD檢測。

內容

[0006] 本發明實施方式提供容易進行高精度的TD檢測的磁盤裝置及下觸判定方法。

[0007] 實施方式的磁盤裝置具備滑動器、加熱器、控制部、傳感器和判定部。所述滑動器具備相對于所述磁盤進行記錄或再現的磁頭元件。所述加熱器設置于所述滑動器,用于通過被供給電力而對所述滑動器進行加熱,并通過伴隨于該加熱的所述滑動器的熱變形而使所述磁頭元件相對于所述磁盤的突出量變化。所述控制部進行使與供給于所述加熱器的電力相關的控制量按一定周期變動的DFH(Dynamic Flying Height,動態飛行高度)控制。所述傳感器設置于所述滑動器,輸出與相應于所述 DFH 控制的所述磁頭元件的突出量相對應的信號。所述判定部基于相應于所述 DFH 控制的所述傳感器的直流輸出分量即 DC 輸出信號的峰值,對是否發生了所述磁盤和所述滑動器的一部分相接觸的下觸進行判定。

技術要求書

1.一種磁盤裝置,其特征在于,具有:磁盤;滑動器,其具備對于所述磁盤進行記錄或再現的磁頭元件;加熱器,其設置于所述滑動器,用于通過被供給電力而對所述滑動器進行加熱,并通過伴隨于該加熱的所述滑動器的熱變形而使所述磁頭元件相對于所述磁盤的突出量可變;控制部,其進行使與供給于所述加熱器的電力相關的控制量按一定周期變動的 DFH 控制;傳感器,其設置于所述滑動器,并輸出對應于與所述 DFH 控制相應的所述磁頭元件的突出量的信號;和判定部,其基于與所述DFH控制相應的所述傳感器的直流輸出分量即DC輸出信號的峰值,對是否發生了所述磁盤和所述滑動器的一部分相接觸的下觸進行判定。

2.根據權利要求1所述的磁盤裝置,其特征在于:所述 DFH 控制中的控制量包括所述一定周期及預定振幅的脈沖列,所述判定部基于所述脈沖列的預定方向的電平變化點附近的峰值點時刻的所述傳感器的輸出信號值,對是否發生了所述下觸進行判定。

3. 根據權利要求2所述的磁盤裝置,其特征在于:所述判定部基于所述峰值點時刻的所述傳感器的輸出信號值的至少所述磁盤 1 周的平均值即峰值平均值,對是否發生了所述下觸進行判定。

4.根據權利要求3所述的磁盤裝置,其特征在于:所述判定部,一邊將所述 DFH 控制量每次提高預定量一邊計算針對各 DFH 控制量的所述峰值平均值,并在與所述 DFH 控制量的上升相對應的所述峰值平均值的變化的斜率低于預定閾值的時刻,判定為發生了所述下觸。

5.根據權利要求2所述的磁盤裝置,其特征在于:所述判定部基于所述峰值點時刻的所述傳感器的輸出信號值的至少所述磁盤 1 周的偏差,對是否發生了所述下觸進行判定。

6.根據權利要求2所述的磁盤裝置,其特征在于:所述判定部,一邊將所述 DFH 控制量每次提高預定量一邊計算針對各 DFH 控制量的所述峰值點時刻的所述傳感器的輸出信號值的至少所述磁盤 1 周的偏差,并在與所述 DFH 控制量的上升相對應的所述偏差高于預定閾值的時刻,判定為發生了所述下觸。

7.根據權利要求4所述的磁盤裝置,其特征在于,所述判定部具備如下單元:計算所述脈沖列的與所述預定方向相反方向的電平變化點附近的谷值點時刻的所述傳感器的輸出信號值的至少所述磁盤1周的平均值作為谷值平均值的單元;一邊將所述 DFH 控制量每次提高預定值,一邊計算針對各 DFH 控制量的所述谷值平均值的單元;和將判定為發生所述下觸時的針對 DFH 控制量的谷值平均值與具有與該谷值平均值相同電平的所述傳感器輸出信號值的峰值平均值進行比較,并計算兩者的 DFH 控制量的差值的1/2作為所述下觸時的振幅有效值的單元。

8.根據權利要求6所述的磁盤裝置,其特征在于,所述判定部具備如下單元:計算所述脈沖列的與所述預定方向相反方向的電平變化點附近的谷值點時刻的所述傳感器的輸出信號值的至少所述磁盤1周的平均值作為谷值平均值的單元;一邊將所述 DFH 控制量每次提高預定值,一邊計算針對各 DFH 控制量的所述谷值平均值的單元;和將判定為發生所述下觸時的針對 DFH 控制量的谷值平均值與具有與該谷值平均值相同電平的所述傳感器輸出信號值的峰值平均值進行比較,并計算兩者的 DFH 控制量的差值的1/2作為所述下觸時的振幅有效值的單元。

9.根據權利要求7所述的磁盤裝置,其特征在于:所述判定部將判定為發生了下觸的 DFH 控制量的中央值和所述下觸時的振幅有效值相加所得的值確定為所述下觸的DFH控制值。

10.根據權利要求8所述的磁盤裝置,其特征在于:所述判定部將判定為發生了下觸的 DFH 控制量的中央值和所述下觸時的振幅有效值相加所得的值確定為所述下觸的DFH控制值。

11.一種下觸判定方法,是磁盤裝置的下觸判定方法,該磁盤裝置具備:磁盤;滑動器,其具備對于所述磁盤進行記錄或再現的磁頭元件;加熱器,其設置于所述滑動器,用于通過被供給電力而對所述滑動器進行加熱,并通過伴隨于該加熱的所述滑動器的熱變形而使所述磁頭元件相對于所述磁盤的突出量可變;和傳感器,其設置于所述滑動器,并輸出對應于與 DFH 控制相應的所述磁頭元件的突出量的信號,該DFH控制使與供給于所述加熱器的電力相關的控制量按一定周期變動,該下觸判定方法包括下述步驟:進行所述DFH控制的步驟;和基于與所述DFH控制相應的所述傳感器的直流輸出分量即DC輸出信號的峰值,對是否發生了所述磁盤和所述滑動器的一部分相接觸的下觸進行判定的步驟。

12.根據權利要求11所述的下觸判定方法,其特征在于:所述DFH控制中的控制量包括所述一定周期及預定振幅的脈沖列;基于所述脈沖列的預定方向的電平變化點附近的峰值點時刻的所述傳感器的輸出信號值,對是否發生了所述下觸進行判定。

13.根據權利要求12所述的下觸判定方法,其特征在于:基于所述峰值點時刻的所述傳感器輸出信號值的至少所述磁盤 1 周的平均值即峰值平均值,對是否發生了所述下觸進行判定。

14.根據權利要求13所述的下觸判定方法,其特征在于:一邊將所述 DFH 控制量每次提高預定值,一邊計算針對各 DFH 控制量的所述峰值平均值,并在與所述 DFH 控制量的上升相對應的所述峰值平均值的變化的斜率低于預定閾值的時刻,判定為發生了所述下觸。

15.根據權利要求12所述的下觸判定方法,其特征在于:基于所述峰值點時刻的所述傳感器的輸出信號值的至少所述磁盤 1 周的偏差,對是否發生了所述下觸進行判定。

16.根據權利要求12所述的下觸判定方法,其特征在于:一邊將所述 DFH 控制量每次提高預定量,一邊計算針對各 DFH 控制量的所述峰值點時刻的所述傳感器的輸出信號值的至少所述磁盤 1 周的偏差,并在與所述 DFH 控制量的上升相對應的所述偏差高于預定閾值的時刻,判定為發生了所述下觸。

17.根據權利要求14所述的下觸判定方法,其特征在于,包括以下步驟:計算所述脈沖列的與所述預定方向相反方向的電平變化點附近的谷值點時刻的所述傳感器的輸出信號值的所述磁盤至少1周的平均值作為谷值平均值;一邊將所述 DFH 控制量每次提高預定量,一邊計算針對各 DFH 控制量的所述谷值平均值;和將判定為發生了所述下觸時的針對 DFH 控制量的谷值平均值與具有與該谷值平均值相同電平的所述傳感器輸出信號值的峰值平均值進行比較,并計算兩者的 DFH 控制量的差值的1/2作為所述下觸時的振幅有效值。

18.根據權利要求16所述的下觸判定方法,其特征在于,包括以下步驟:計算所述脈沖列的與所述預定方向相反方向的電平變化點附近的谷值點時刻的所述傳感器的輸出信號值的至少所述磁盤1周的平均值作為谷值平均值;一邊將所述 DFH 控制量每次提高預定量,一邊計算針對各 DFH 控制量的所述谷值平均值;和將判定為發生了所述下觸時的針對 DFH 控制量的谷值平均值與具有與該谷值平均值相同電平的所述傳感器輸出信號值的峰值平均值進行比較,并計算兩者的 DFH 控制量的差值的1/2作為所述下觸時的振幅有效值。

19.根據權利要求17所述的下觸判定方法,其特征在于:將判定為發生了下觸的 DFH 控制量的中央值和所述下觸時的振幅有效值相加所得的值確定為所述下觸的DFH控制值。20.根據權利要求18所述的下觸判定方法,其特征在于:將判定為發生了下觸的 DFH 控制量的中央值和所述下觸時的振幅有效值相加所得的值確定為所述下觸的DFH控制值。

說明書附圖

圖1

圖2A

圖2B

圖3

圖4

圖5

圖6

圖7

圖8

圖9

圖10

圖11

圖12

圖13